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沼宮内 弼雄; 大谷 暁; 河合 勝雄; 織田 暢夫*
JAERI 1180, 12 Pages, 1969/09
微視的線量概念にもとづいて、エネルギーが4~12MeV/amu、電荷が1~18の重荷電粒子対する標的不活性化有効断面積と生存率をIBM-7044を用いて計算した。生存率はoneーtwoーおよびthreeーevents modelの標的について、重荷電粒子の重荷電粒子の有効重荷Zeff、入射」エネルギーEp、8線のcut-offエネルギー、標的厚み をパラメータとして、それぞれ異なる組み合わせをした場合について求めた。InputとしてはZ(標的当りの附与エネルギー)を用いた、不活性化有効断面積は、oneーevent modelの場合についてのみ、生存率から求めた。